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應(yīng)力雙折射儀 晶體應(yīng)力雙折射儀
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應(yīng)力雙折射儀 晶體應(yīng)力雙折射儀
產(chǎn)品型號(hào)：WYL-4
產(chǎn)品編號(hào)：TC-017453
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應(yīng)力雙折射儀 晶體應(yīng)力雙折射儀型號(hào)：WYL-4
儀器簡介：
透明物體由于不均勻冷卻或其他如受機(jī)械作用等原因，其內(nèi)部會(huì)產(chǎn)生內(nèi)應(yīng)力，引起雙折射。晶體物質(zhì)本身具有雙折射的光學(xué)特征。WYL-4應(yīng)力雙折射儀采用偏振光電矢量合成及光學(xué)補(bǔ)償原理，通過對樣品的光程差的定量測定,確定樣品應(yīng)力雙折射的大小。本儀器能精確測定光學(xué)波片的光程差、確定光學(xué)玻璃的應(yīng)力級(jí)別,是光學(xué)儀器制造業(yè)不可缺少的儀器，也是研究晶體礦物質(zhì)的重要工具。
儀器特點(diǎn)：
★ 直讀納米級(jí)光程差，無須計(jì)算。
★ 雙分視場零位檢測，靈敏度高。
★ 樣品工作臺(tái)45度自動(dòng)定位。
★ 體積小巧,結(jié)構(gòu)緊揍。
★ 操作方便,可靠實(shí)。
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技 術(shù) 參 數(shù) |
技術(shù)指標(biāo) |
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儀 器 |
WYL-4應(yīng)力雙折射儀 |
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單 色 光 波 長 |
589.44nm |
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光 程 差 測 定范圍 |
± 590 nm |
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度 盤 格 值 |
5nm |
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Z小讀數(shù)(1/5估讀) |
1nm |
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儀 器 零 位 誤 差 |
±2nm |
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波 片 讀 數(shù)重復(fù)性 |
1nm |
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光 源 |
220V 20W低壓鈉燈 |
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被 檢 樣品Z大尺寸 |
寬度440mm；長度440mm；高度240 mm |
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儀 器 尺 寸 （mm） |
413 ×250 ×400 |
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